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首页 > 过刊浏览>2008年第23卷第3期 >241-245
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小子样统计理论及IC可靠性评估
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华南理工大学电子与信息工程学院 广州 510640

作者简介:

邹心遥

通讯作者:

中图分类号:

TP202

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    小子样IC 可靠性评估方法显得越来越重要.传统的小子样可靠性评估是基于Bayes方法,其主要特点是可充分利用先验信息进行统计推断.近年来发展的支持向量机(SVM)在小子样可靠性评估中具有独特的优势,已在软件可靠性评估和可靠性预测方面取得了重要应用.将SVM与Bayes方法相结合并应用于小子样IC 的可靠性评估,将大大节省IC 可靠性评估的时间,有效地提高工作效率.

    Abstract:

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引用本文

邹心遥;姚若河.小子样统计理论及IC可靠性评估[J].控制与决策,2008,23(3):241-245

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  • 收稿日期:2006-12-15
  • 最后修改日期:2007-03-16
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  • 在线发布日期: 2008-03-20
  • 出版日期:
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