二阶自相关过程Shewhart 型控制图的性能评价
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作者单位:

青岛大学复杂性科学研究所

作者简介:

孙秋霞

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中图分类号:

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国家自然科学基金资助项目


Performance evaluation of Shewhart type charts for AR(2) process
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    摘要:

    针对二阶自相关过程, 分别采用有限马氏链内嵌法和积分法给出了Shewhart 型修正控制图和残差控制图平
    均运行链长的计算方法, 并通过其数值结果的比较分析, 得到结论: 当自相关过程系数均为正值时, 修正图的性能较
    好; 当过程系数均取负值时, 残差图较为适用; 当过程系数符号相异时, 两图性能可采用所给方法具体比较. 该结论为
    控制图的选择和应用提供了理论依据.

    Abstract:

    Limited Markov chain embedded method and integration method are given to calculate the respective average run
    length of modified Shewhart chart and Shewhart residual chart for 2-order autoregressive process. Performance of both charts
    with different parameters are discussed and compared by numerical results. Some conclusions show that, modified chart is
    more applicable when both parameters are positive, residual chart is more applicable when both parameters are negative,
    otherwise both charts need to be compared through the proposed method. The conclusion provides academic basis to choose
    and apply control charts.

    参考文献
    相似文献
    引证文献
引用本文

孙秋霞 高齐圣.二阶自相关过程Shewhart 型控制图的性能评价[J].控制与决策,2011,26(4):619-622

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  • 收稿日期:2010-04-26
  • 最后修改日期:2010-07-25
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  • 在线发布日期: 2011-04-20
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